台灣電鏡儀器股份有限公司的所有權人共 11 筆商標,1 筆分類

相關所有權人

台灣電鏡儀器股份有限公司 (11)
查看完整 1 項目

註冊日期▼  | 專用期限

圖案 商標資訊

(文字:PSK)
PSK
商標權人
台灣電鏡儀器股份有限公司
TAIWAN ELECTRON MICROSCOPE INSTRUMENT
地  址
新竹科學工業園區力行一路1號3樓B1室
註冊編號
02143713
申請案號
109074439
代理人名
蔡朝安
註冊日期
2021-6-1
專用期限
2031-5-31
台灣電鏡儀器股份有限公司標章圖
商標權人
台灣電鏡儀器股份有限公司
TAIWAN ELECTRON MICROSCOPE INSTRUMENT CORPORATION
地  址
新竹科學工業園區力行一路1號3樓B1室
註冊編號
02143770
申請案號
109088686
代理人名
蔡朝安
註冊日期
2021-6-1
專用期限
2031-5-31

(文字:台灣電鏡)
台灣電鏡
商標權人
台灣電鏡儀器股份有限公司
TAIWAN ELECTRON MICROSCOPE INSTRUMENT CORPORATION
地  址
新竹科學工業園區力行一路1號3樓B1室
註冊編號
02143771
申請案號
109088687
代理人名
蔡朝安
註冊日期
2021-6-1
專用期限
2031-5-31

(文字:台灣電鏡儀器)
台灣電鏡儀器
商標權人
台灣電鏡儀器股份有限公司
TAIWAN ELECTRON MICROSCOPE INSTRUMENT CORPORATION
地  址
新竹科學工業園區力行一路1號3樓B1室
註冊編號
02143772
申請案號
109088688
代理人名
蔡朝安
註冊日期
2021-6-1
專用期限
2031-5-31

(文字:APAS)
APAS
商標權人
台灣電鏡儀器股份有限公司
TAIWAN ELECTRON MICROSCOPE INSTRUMENT
地  址
新竹科學工業園區力行一路1號3樓B1室
註冊編號
02130235
申請案號
109074435
代理人名
蔡朝安
註冊日期
2021-4-1
專用期限
2031-3-31

(文字:VTBOX)
VTBOX
商標權人
台灣電鏡儀器股份有限公司
TAIWAN ELECTRON MICROSCOPE INSTRUMENT CORPORATION
地  址
新竹科學工業園區力行一路1號3樓B1室
註冊編號
02110938
申請案號
109051171
代理人名
蔡朝安
註冊日期
2021-1-1
專用期限
2030-12-31

(文字:I SEM)
i-SEM
商標權人
台灣電鏡儀器股份有限公司
TAIWAN ELECTRON MICROSCOPE INSTRUMENT CORPORATION
地  址
新竹科學工業園區力行一路1號3樓B1室
註冊編號
02068159
申請案號
108077476
代理人名
蔡朝安
註冊日期
2020-7-1
專用期限
2030-6-30

(文字:TEMIC)
temic
商標權人
台灣電鏡儀器股份有限公司
TAIWAN ELECTRON MICROSCOPE INSTRUMENT CORPORATION
地  址
新竹市力行一路一號3B1
註冊編號
01919664
申請案號
106068333
代理人名
蔡朝安,鄭淑芬
註冊日期
2018-6-16
專用期限
2028-6-15
標章圖
商標權人
台灣電鏡儀器股份有限公司
TAIWAN ELECTRON MICROSCOPE INSTRUMENT CORPORATION
地  址
新竹市力行一路一號3B1
註冊編號
01919665
申請案號
106068341
代理人名
蔡朝安,鄭淑芬
註冊日期
2018-6-16
專用期限
2028-6-15

(文字:TEMIC)
TEMIC
商標權人
台灣電鏡儀器股份有限公司
TAIWAN ELECTRON MICROSCOPE INSTRUMENT CORPORATION
地  址
新竹科學園區新竹市展業二路22號3樓
註冊編號
01634317
申請案號
102043787
代理人名
蔡朝安
註冊日期
2014-4-1
專用期限
2034-3-31
台灣電鏡儀器股份有限公司標章圖
商標權人
台灣電鏡儀器股份有限公司
TAIWAN ELECTRON MICROSCOPE INSTRUMENT CORPORATION
地  址
新竹科學園區新竹市展業二路22號3樓
註冊編號
01624556
申請案號
102043785
代理人名
蔡朝安
註冊日期
2014-2-1
專用期限
2034-1-31



台灣商標網

台灣商標網提供:商標查詢,商標檢索,商標註冊查詢,商標所有權人查詢,商標代理人查詢,商標圖案(中/英/日)查詢。

資料來源:經濟部智慧財產局公開資料

回報此頁面錯誤